中科飛測(cè):明場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備已小批量出貨 未來(lái)將重點(diǎn)拓展設(shè)備類產(chǎn)品|直擊業(yè)績(jī)會(huì)
原創(chuàng)
2024-11-22 22:22 星期五
財(cái)聯(lián)社記者 吳旭光
①中科飛測(cè)前三季度加大了新產(chǎn)品及現(xiàn)有產(chǎn)品向更前沿工藝的迭代升級(jí)等研發(fā)投入,影響了盈利水平;
②陳魯表示,對(duì)全年的經(jīng)營(yíng)情況,公司有信心繼續(xù)保持穩(wěn)健的增長(zhǎng)。

《科創(chuàng)板日?qǐng)?bào)》11月22日(記者 吳旭光) 在今日(11月22日)下午召開(kāi)的Q3業(yè)績(jī)說(shuō)明會(huì)上,中科飛測(cè)董事、財(cái)務(wù)總監(jiān)周凡女回應(yīng)稱,為加快打破國(guó)外企業(yè)在國(guó)內(nèi)市場(chǎng)的壟斷局面,該公司前三季度加大了新產(chǎn)品及現(xiàn)有產(chǎn)品向更前沿工藝的迭代升級(jí)等研發(fā)投入,影響了其盈利水平。

從未來(lái)研發(fā)支出情況來(lái)看,隨著在研項(xiàng)目持續(xù)推進(jìn),產(chǎn)品布局逐漸完善,公司研發(fā)人員規(guī)模將趨于穩(wěn)定,未來(lái)公司研發(fā)支出增速將有所放緩。”周凡女進(jìn)一步表示。

中科飛測(cè)是一家半導(dǎo)體質(zhì)量控制設(shè)備公司,專注于檢測(cè)和量測(cè)兩大類集成電路專用設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售,產(chǎn)品包括無(wú)圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備系列、圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備系列、三維形貌量測(cè)設(shè)備系列等,應(yīng)用于國(guó)內(nèi)28nm及以上制程的集成電路制造產(chǎn)線。

2024年前三季度,中科飛測(cè)實(shí)現(xiàn)營(yíng)業(yè)收入8.12億元,同比增長(zhǎng)38.21%;凈利潤(rùn)為-5188.54萬(wàn)元,同比下降165.58%;前三季度,公司研發(fā)費(fèi)用規(guī)模為3.35億元,同比增長(zhǎng)131.82%。

業(yè)績(jī)會(huì)上,談及公司半導(dǎo)體質(zhì)量控制設(shè)備研發(fā)及業(yè)務(wù)拓展,中科飛測(cè)董事長(zhǎng)、總經(jīng)理陳魯表示,其重點(diǎn)研發(fā)方向主要包括兩方面:一是設(shè)備種類的拓展;二是現(xiàn)有產(chǎn)品向更前沿工藝的升級(jí)迭代。

其中,明場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備已有小批量出貨;其暗場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備已出貨到部分客戶產(chǎn)線上進(jìn)行工藝開(kāi)發(fā)與應(yīng)用驗(yàn)證工作;光學(xué)關(guān)鍵尺寸設(shè)備目前在客戶端驗(yàn)證結(jié)果較好,正在為交付給客戶的量產(chǎn)部門(mén)做相應(yīng)的測(cè)試工作。

尤其對(duì)明場(chǎng)和暗場(chǎng)設(shè)備的投入非常大,目標(biāo)是以最快的速度完成設(shè)備在客戶產(chǎn)線的驗(yàn)證,完成本土化替代。”陳魯補(bǔ)充說(shuō)道。

對(duì)于現(xiàn)階段公司半導(dǎo)體質(zhì)量控制設(shè)備市場(chǎng)需求表現(xiàn),中科飛測(cè)董事、董事會(huì)秘書(shū)古凱男表示,受益于國(guó)內(nèi)晶圓廠的產(chǎn)能持續(xù)擴(kuò)張,國(guó)內(nèi)的半導(dǎo)體設(shè)備行業(yè)正處于快速發(fā)展期。

值得一提的是,近年來(lái),AI、算力芯片等應(yīng)用為集成電路制造帶來(lái)了許多工藝上的創(chuàng)新,包括應(yīng)用在HBM的2.5D和3D封裝,這些制程工藝上的創(chuàng)新也為檢測(cè)和量測(cè)設(shè)備提出了更高的要求。

業(yè)績(jī)會(huì)上,有投資者提問(wèn):“公司的晶圓檢測(cè)設(shè)備是否可以應(yīng)用到HBM芯片的生產(chǎn)過(guò)程中?是否有為HBM產(chǎn)業(yè)鏈公司提供檢測(cè)設(shè)備?”

據(jù)古凱男介紹,在2.5D和3D封裝應(yīng)用中,該公司的圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備能有效地解決由于封裝技術(shù)的提升帶來(lái)的檢測(cè)難度的顯著提升,例如RDL線寬不斷變窄、表面粗糙度干擾不斷提升導(dǎo)致所需檢測(cè)能力的提升,以及3D封裝帶來(lái)的micro bump的高度檢測(cè)需求等。

展望2024年業(yè)績(jī)表現(xiàn),中科飛測(cè)董事長(zhǎng)、總經(jīng)理陳魯表示,“對(duì)全年的經(jīng)營(yíng)情況,公司有信心繼續(xù)保持穩(wěn)健的增長(zhǎng)?!?/strong>

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